掃描電鏡技術(shù)服務(wù)

掃描電鏡技術(shù)服務(wù)
掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是，①有較高的放大倍數(shù)，20-20萬倍之間連續(xù)可調(diào)；②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)；③試樣制備簡單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織性貌的觀察和微區(qū)成分分析。
掃描電鏡主要用二次電子觀察形貌，在掃描電鏡中，電子槍發(fā)射出來的電子束，經(jīng)三個電磁透鏡聚焦后，成直徑為幾個納米的電子束。末級透鏡上部的掃描線圈能使電子束在試樣表面上做光柵狀掃描。試樣在電子束作用下，激發(fā)出各種信號，信號的強(qiáng)度取決于試樣表面的形貌、受激區(qū)域的成分和晶體取向。設(shè)在試樣附近的探測器把激發(fā)出的電子信號接受下來，經(jīng)信號處理放大系統(tǒng)后，輸送到顯象管柵極以調(diào)制顯象管的亮度。由于顯象管中的電子束和鏡筒中的電子束是同步掃描的，顯象管上各點(diǎn)的亮度是由試樣上各點(diǎn)激發(fā)出的電子信號強(qiáng)度來調(diào)制的，即由試樣表面上任一點(diǎn)所收集來的信號強(qiáng)度與顯象管屏上相應(yīng)點(diǎn)亮度之間是一一對應(yīng)的。因此，試樣各點(diǎn)狀態(tài)不同，顯象管各點(diǎn)相應(yīng)的亮度也必不同，由此得到的象一定是試樣狀態(tài)的反映。放置在試樣斜上方的波譜儀和能譜儀是用來收集X射線，借以實(shí)現(xiàn)X射線微區(qū)成分分析的。值得強(qiáng)調(diào)的是，入射電子束在試樣表面上是逐點(diǎn)掃描的，象是逐點(diǎn)記錄的，因此試樣各點(diǎn)所激發(fā)出來的各種信號都可選錄出來，并可同時(shí)在相鄰的幾個顯象管上顯示出來，這給試樣綜合分析帶來極大的方便。

 

掃描電鏡技術(shù)服務(wù)內(nèi)容：樣品制備、干燥、噴金、掃描電鏡觀察

 

服務(wù)案例：貼壁細(xì)胞，細(xì)菌，真菌（平板），植物的根、莖、葉、花、果實(shí)、種子、種皮、果皮、氣孔、真菌侵染植物，動物骨骼、腎臟、血管、細(xì)菌生物膜等。

 

交付結(jié)果：超微結(jié)構(gòu)照片及詳細(xì)的操作流程

 

客戶提供：

1、提供2.5%戊二醛固定的標(biāo)本——要求依據(jù)《透射電鏡取材注意事項(xiàng)》。

2、拍攝要求——掃描電鏡送樣登記表