蔡司全新場發(fā)射掃描電鏡Sigma系列隆重上市

2022年12月20日蔡司中國新一代場發(fā)射掃描電鏡Sigma系列新品線上發(fā)布會成功舉辦。為滿足新能源，新材料，電子半導體和集成電路，深海，太空，生命科學，考古等熱門領域的高分辨率成像和全面分析的需求，蔡司全新推出的場發(fā)射掃描電鏡Sigma 360和Sigma 560，傳承GEMINI電子鏡筒的優(yōu)良性能，將會是材料研究、生命科學和工業(yè)檢測等領域的 “全能多面手”。蔡司致力于和用戶一起攜手共進，推動科學發(fā)展與行業(yè)進步。

   
蔡司中國顯微鏡事業(yè)部材料科研負責人黃銘剛先生出席線上發(fā)布會并為全新Sigma系列揭幕。他提到：“作為蔡司集團歷史最悠久的部門之一，蔡司顯微鏡秉承創(chuàng)新的基因，持續(xù)利用前沿技術，為不同行業(yè)的客戶提供跨尺度、多模態(tài)的顯微成像分析解決方案。我們堅信全新的Sigma系列必將助力客戶持續(xù)成功。” 
  蔡司顯微鏡材料科學全球市場總監(jiān)Benjamin Tordoff博士也受邀在發(fā)布會中致辭并介紹了全新Sigma系列的關鍵技術特點，尤其是低電壓性能方面得到了極大提升。
   
隨后，蔡司中國顯微鏡應用經理秦艷女士詳細介紹了全新Sigma系列的前沿技術。高分辨、全分析、多擴展、強智能、廣應用，新一代場發(fā)射掃描電鏡Sigma系列與您一同開啟納米分析新紀元！
 
全新Sigma系列亮點：
高分辨
GEMINI電子光學技術再度升級，分辨率進一步提升，低電壓效果更加優(yōu)秀，讓您的高分辨成像工作更加得心應手。  
全分析
可配置多種分析手段，獲取樣品全面信息。
✓ 全新NanoVP Lite保證低真空EDS分析精度
✓ 電子通道襯度成像（ECCI）分析樣品內部缺陷
✓ 無漏磁物鏡搭配EBSD，實現高精度晶體取向分析
✓ Raman-SEM聯(lián)用系統(tǒng)，輕松實現高精度原位拉曼分析 多擴展
超強的擴展兼容性，為您拓展電鏡應用新維度。它可以是您的全自動原位實驗平臺，可以是您的冷凍傳輸分析系統(tǒng)，也可以是您的高精度電子束直寫(EBL)平臺，還可以是您的原位電化學分析工作站，等等。 強智能
智能軟件不能少，帶您解鎖掃描電鏡新玩法。SmartSEM Touch定制軟件為您帶來觸屏式、流程化的拍攝與自動拼圖體驗，操作高效又安全；ZEN軟件讓圖像處理等量化分析工作更加自動、智能；Connect模塊可輕松實現光電關聯(lián)，一站式解決您的定位難題。

簡潔的SmartSEM Touch操作界面

顆粒分析

高級測量滿足多種測量需求

層厚測量
 
廣應用
廣泛的應用適用性，無論是材料科學研究、工業(yè)檢測，還是生命科學領域；無論是金屬、聚合物，還是陶瓷、礦石；無論是不導電樣品、電子束敏感樣品，還是磁性樣品；無論是半導體材料、鋰電池材料，還是生物樣品，它行行全覆蓋，樣樣都拿手。
磁性材料

含Ni磁性樣品，1kV成像

強磁性釹鐵硼磁鐵
未消磁處理，10kV成像
納米材料

BN 納米片，1kV成像

SiO2小球包覆PS核殼結構
1kV背散射成像
半導體材料

InP襯底材料的量子阱結構
1kV成像

光柵截面傾斜觀察
1kV成像
樣品來自北京至格科技
生命科學

苔蘚蟲的高倍背散射成像

樹突狀細胞的高分辨率超微三維結構
 
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